SEM（Scanning Electron Microscopy）扫描电子显微镜技术是研究仪器实验技术里最为重要且应用最广泛的技术之一。它以显微镜方式研究微小物体相对于宏观物体放射空间的微观结构的效果是最佳的，它通过产生的空间和结构的电子显微图，能够更加清晰地了解材料、过程、产品的总体结构，从而精准地分析表面形貌及微观结构构造从而获取重要信息。
SEM技术有着诸多特点。首先，SEM技术因其能更精准地检测本质构造而拥有更高精度。清晰的SEM图像可以提供用以识别物体内部结构、缺陷及隐蔽部分信息的准确标准。其次，该技术的物理原理允许物体的分析，伴随着备选的材料到材料的表面分析，因而可更加准确地分析多层薄膜印刷电路板各种构造元素的厚度分布。此外，SEM也具备能够观察常规分析不易检测的小颗粒及小洞的特性。
综上所述，SEM技术是最能提供准确实验数据信息的技术之一，它具有高精度、将材料从到材料转变为表面分析技术集成入同一系统、能够发现小孔、小颗粒等特点，越来越成为分析技术的不可或缺。
